Smazat příspěvek

Já jsem se kdysi zabýval preventivní diagnostikou třeba VN tranzistorů a právě obvodů spínacích zdrojů, a mohu říci, že systéme měření který jsem pak navrhnul a patentoval šly zjistit i třeba již z výroby vadné tranzistory a IO. Když jsem to pak zkoumal statisticky ve stovkách případů, zjistil jsem, že závady u součástek s polovodičovými přechody lze zjistit dlouho dopředu například podle charakteristiky vnitřního šumu, který generují ve speciálním zapojení. Perfektní je to právě třeba u televizních řádkových rozkladů, spínacích zdrojů, obrazových zesilovačů a jiných VN aplikací.Pokud se zabýváte občasným rozebíráním elektornického šrotu a preventivním proměřováním více kusů, zjistíte též, že "preventivní diagnostika", ale i například doba provozu jako parametr kvality výkonových přechodů v nevhodných zapojeních jsou velmi podobné jako degradace parametrů u elektronky.